免洗焊錫絲錫須現象

免洗焊錫絲出現錫須會(huì )導致電路短路，并導致電容器失效，這一問(wèn)題引發(fā)人們對Sn晶須進(jìn)行了長(cháng)期深入而廣泛的研究。但是時(shí)至今日，Sn晶須現象還存在大量未解之謎。

晶須是指在金屬表面生長(cháng)出的細絲狀單晶，通常生長(cháng)在厚度較小的金屬沉積層表面，而以含錫鍍層表面生長(cháng)的Sn晶須最典型。由于材料內應力梯度的存在，免洗焊錫絲錫須的生長(cháng)是一個(gè)自發(fā)的過(guò)程，但是，其生長(cháng)速度與外部環(huán)境條件密切相關(guān)。

免洗焊錫絲錫須導致的失效形式主要有4種

1、在低電壓下，由于電流比較小，錫須可以在領(lǐng)近不同電勢表面產(chǎn)生穩定持久的短路；

2、在高電壓下，當電流足夠高而超過(guò)Sn晶須的熔斷電流時(shí)，可以熔斷晶須從而導致瞬時(shí)短路；

3、在航天器真空環(huán)境中，由錫須短路導致金屬蒸發(fā)放電，可形成一個(gè)穩定的等離子電弧，并導致電子設備迅速毀壞；

4、在震動(dòng)環(huán)境中，晶須脫落會(huì )引發(fā)電路短路，同時(shí)還可造成精密機械的故障或破壞。

因此，Sn晶須問(wèn)題成為焊錫絲無(wú)鉛化進(jìn)程的一個(gè)重要的可靠性問(wèn)題，也是無(wú)鉛焊錫絲及所有無(wú)鉛焊錫產(chǎn)品進(jìn)程的重要的可靠性問(wèn)題。

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